Profilômetro LUPHOScan para inspeção de lentes ópticas

A plataforma de medição LUPHOScan HD é um sistema de medição de varredura interferométrica baseado em interferometria de comprimento de onda múltipla (MWLI®) Tecnologia.

Ele é projetado para medição de forma 3D ultra-precisa e sem contato de superfícies rotacionalmente simétricas, como lentes ópticas asféricas, esféricas, planas e de forma livre.

Os principais recursos deste instrumento incluem medição de alta velocidade, alta flexibilidade na medição de superfícies especiais (e.g., contornos de pontos de inflexão ou pontas planas), e a capacidade de medir objetos com um diâmetro máximo de até 420mm.

Tecnologia de Medição Inovadora

A plataforma de medição LUPHOScan HD é pioneira em um novo reino de metrologia de alta precisão para superfícies ópticas. O sistema de medição de nova geração pode medir ângulos de objetos de até 90 °, com precisão absoluta de medição melhor que ± 50 nm (3σ). Os resultados da medição exibem repetibilidade extremamente alta e baixo ruído.

O novo LUPHOScan HD é a escolha ideal para aplicações com requisitos de precisão extremamente alta e é fundamental para o controle do processo de produção. Ele pode medir superfícies com inclinações extremamente altas, superfícies com diferentes direções de espaçamento e superfícies extremamente pequenas, como moldes de lentes para smartphones.

Erros de forma de medição de componentes ópticos com extensão LUPHOSwap

As plataformas de medição LUPHOScan 260 HD e LUPHOScan 420 HD podem utilizar a extensão LUPHOSwap para medir continuamente todos os recursos de ambas as superfícies de uma lente. Um conceito de medição especial permite a correlação dos resultados da medição de ambas as superfícies. Este conceito permite que o LUPHOSwap determine a espessura precisa, o ângulo da cunha, o erro de decentrada e o posicionamento rotacional de ambas as superfícies enquanto mede os erros de forma.

• Análise aprofundada de qualquer superfície rotacionalmente simétrica: asférica, esférica, plana e de forma livre.

• Alta precisão: Capaz de medir objetos com inclinações de até 90 °, tornando-o ideal para medir lentes asféricas grandes, íngremes e extremamente pequenas (como moldes de lentes para smartphones).

• Versatilidade do material: Pode medir qualquer material, incluindo superfícies transparentes, espelhadas, opacas, polidas e moídas.

• Grandes desvios esféricos: Capaz de medir superfícies de disco ou asa de gaivota, bem como os contornos dos pontos de inflexão.

• Alta repetibilidade dos resultados da medição: Estabilidade ideal na determinação dos parâmetros de potência e PV.

• Baixo ruído do sistema: Robusto e não afetado por mudanças ambientais.

• Medição de alta velocidade: Capaz de medir diâmetros de até 420mm.

Bena Optics atualmente possui um Luphoscan 420HD

A Bena Optics atualmente possui um Luphoscan 420HD, que pode inspecionar com precisão vários parâmetros de componentes ópticos. Isso é particularmente vantajoso para inspecionar a forma geral da superfície das cúpulas ópticas, superando significativamente os interferômetros Zygo padrão.